局部放電測(cè)試儀總線技術(shù)的回顧與展望
未來(lái)的趨勢(shì)——混合總線的測(cè)試系統(tǒng)
先讓我們回顧一下歷史,無(wú)論是GPIB還是串口,都已經(jīng)在測(cè)試行業(yè)應(yīng)用超過(guò)了數(shù)十年,但至今仍有很多的工程師在繼續(xù)使用 或購(gòu)買(mǎi)相應(yīng)的儀器。再來(lái)看看幾乎已經(jīng)退出PC歷史舞臺(tái)的ISA總線,在現(xiàn)在的一些工控機(jī)里我們?nèi)耘f可以看到ISA插槽的身影,甚至有不少?gòu)S商還在生產(chǎn)基于 ISA總線的數(shù)據(jù)采集卡和GPIB控制卡,滿足一部分客戶的需求??梢哉f(shuō),任何一種總線都有其在行業(yè)內(nèi)獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),沒(méi)有一種總線會(huì)**到可以取代其它任何的總線。