數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測試儀可以在工頻高電壓下，現(xiàn)場測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)。與西林電容電橋相比，具有操作簡單、自動測量、讀數(shù)直觀、無需換算、精度高、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測試儀內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容器和升電壓裝置，在“內(nèi)接”方式下使用，無需其它外接設(shè)備，便于攜帶。數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測試儀具有多種測量方式，可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測量。正接線可測量高壓介損。 

數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)指標(biāo) 

1、額定工作條件 

2、環(huán)境溫度:0～40℃(當(dāng)溫度超出20℃±5℃時(shí),每變化10℃儀器基本誤差的改變量不超過基本誤差限的1/2。) 

3、相對濕度:30%～85% 

4、供電電源:電壓:220V±22V,頻率: 50±1Hz 

5、外形尺寸:l×b×h,mm:440×330×400 

6、重量:不大于23kg 

7、電子電路功耗:不大于40VA 

8、數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測試儀測量范圍:介質(zhì)損耗(tgδ):0～1 分辨率0.0001電容量(Cx): *小分辨率0.01pF內(nèi)接方式  9、 試驗(yàn)電壓 試品電容量5kV 7.5kV 10kV 3pF～40000PF1.5kV 2.25kV 3k 10pF～0.35μF 0.5kV 0.75kV 1kV 30pF～1.5μF 

10、外接方式“外接升壓器”方式*高試驗(yàn)電壓10kV“外接Cn”方式（外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器）*高試驗(yàn)電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定(Umax=Imax/ωC) 

11、基本測量誤差產(chǎn)品在環(huán)境溫度20℃±5℃、相對濕度30%～85%的條件下，應(yīng)符合表1之規(guī)定。 

12、內(nèi)部升壓器輸出能力輸出電壓 額定輸出電流5kV 7.5kV 10kV 100mA1.5kV 2.25kV 3kV 300mA 0.5kV 0.75kV 1kV 500m 

工作原理 

儀器測量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路被試回路。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由8031單片機(jī)運(yùn)用計(jì)算機(jī)數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,對數(shù)以萬計(jì)的采樣數(shù)據(jù)處理后進(jìn)行矢量運(yùn)算，分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ)，測量結(jié)果可靠?，F(xiàn)場有干擾時(shí)，先利用移相、倒相法減小干擾的影響，再將被試回路測得的電流Ix′與單獨(dú)測得的干擾電流Id矢量相加，得到真正的測量電流Ix，進(jìn)而得出正確的測量結(jié)果。可根據(jù)不同的測量對象和測量需要，靈活地采用多種接線方式。如測量非接地試品（正接法）時(shí)，“LV”（E）點(diǎn)接地；而測量接地試品（反接法）時(shí)，則“HV”點(diǎn)接地。